（一）手持光譜合金分析儀JTES-5000可分析的合金成份種類
（1）、可分析Ti（鈦）到U（鈾）之間所有元素。
（2）、可分析的合金牌號(hào)高達(dá)2000多種，機(jī)器自帶合金牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)多達(dá)300種，
同時(shí)用戶可自定義添加300多種合金牌牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)。
（3）、用于不銹鋼、合金鋼、工具鋼牌號(hào)鑒定及成份、含量檢測(cè)，包含常用不銹鋼牌號(hào)201、203、301、304、316、321等幾百種。
（4）、用于銅合金牌號(hào)及成份檢測(cè)，包含黃銅、青銅、紫銅、純銅等等。
（5）、用于各種混雜合金成份及檢測(cè)，包含鈦合金、錫合金、鉛合金、鎢合金、鋅合
金、鋁合金、鎳合金等等。
（6）、用于貴金屬檢測(cè)。包含金、銀、鉑、銠、鈀。
（二）手持光譜合金分析儀JTES-5000分析精度及穩(wěn)定性：
分析精度及穩(wěn)定性：
1、金屬含量的檢測(cè)限達(dá)0.01%，對(duì)這些金屬測(cè)試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：
A. 檢測(cè)含量大于5percentage的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值小于±0.1～0.2%
B. 檢測(cè)含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值達(dá)±0.05%～0.1%
C. 檢測(cè)含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值達(dá)±0.01～0.03%
D. 檢測(cè)含量低于0.1%的元素測(cè)試讀取變化率±10～15%
2、 可以檢測(cè)分析樣品狀態(tài)：塊狀、固體、粉末。
技術(shù)參數(shù)及指標(biāo):
【濾波器】六種可選擇的濾波器根據(jù)不同的實(shí)物自動(dòng)調(diào)節(jié)
【探測(cè)器】高性能高分辨率Si-Pin X射線探測(cè)器
【探測(cè)器制冷溫度】 Peltier效應(yīng)半導(dǎo)體制冷,制冷溫度-35
【標(biāo)準(zhǔn)片】外置316標(biāo)準(zhǔn)帽 帶有測(cè)試窗口保護(hù)功能；
【激發(fā)源】射線管靶材4種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鈀（Pd）
【分析元素】可分析從Ti(鈦)到U(鈾)之間所有元素，本機(jī)標(biāo)配元素：
Cr鉻, Mn錳, Fe鐵, Ni鎳, Cu銅, Zn鋅, Pb鉛, Se 硒, Zr 鋯, Co鈷, V 釩, Mo鉬, Ag銀, Cd鎘, Sn錫, Sb銻,
Ti 鈦, Hf鉿, Ta 鉭, W鎢, Re錸, Pd鈀, Au 金, Pt 鉑, Rh銠, Ru 釕, Nb鈮, Bi鉍等元素；
【電壓電流與功率】大功率微型X射線管50KV、100MA、4W
【解析度】<180ev
【電源】8小時(shí)/2塊鋰電源及交流電源
【處理器】Intel 400MHz StrongArm處理器
【操作系統(tǒng)】移動(dòng)Windows CE系統(tǒng)
【兼容性】藍(lán)牙
【軟件標(biāo)準(zhǔn)模式】Alloy
【數(shù)據(jù)處理】8G大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)卡：≥40, 000組數(shù)據(jù)及光譜圖。
【數(shù)據(jù)分析】多種分析模式，包括基本參數(shù)，Compton歸一化，經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)模式。
【數(shù)據(jù)顯示】集中于ppm與百分比（％）顯示，光譜或峰強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率）或用戶定的單位
【數(shù)據(jù)傳輸】RS232串行電纜，藍(lán)牙，EXCEL輸出。
【顯示屏】彩色，高分辨率3.5寸TFT工業(yè)級(jí)觸摸屏，大圖標(biāo)圖形界面，任何光線條件下清晰可見；
【外形設(shè)計(jì)】一體化機(jī)身設(shè)計(jì)，堅(jiān)固，防水防塵防凍，有效防振，適合野外、潮濕或低溫等環(huán)境使用。
【安全操作】一觸式“扳機(jī)”，軟件自動(dòng)定時(shí)鎖扳機(jī)或自動(dòng)停止測(cè)試防護(hù)功能；判斷測(cè)試窗前方?jīng)]有樣品后2秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉X射線
【測(cè)試環(huán)境條件】溫度--20～+50℃，濕度＜80%RH。
【校正】?jī)x器出廠前已經(jīng)校正；但儀器仍具有可建立有針對(duì)性的校正曲線功能， 適用于特定樣品的精確測(cè)試
【結(jié)果報(bào)告】?jī)x器配有標(biāo)準(zhǔn)USB接口及藍(lán)牙無(wú)線傳輸，可直接向電腦或網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)設(shè)備傳輸數(shù)據(jù)，可直接以定制EXCEL格式下載測(cè)量數(shù)據(jù)及其X射線譜圖?？稍O(shè)置用戶權(quán)限、生成定制報(bào)告和打印分析報(bào)告
【防輻射功能】?jī)x器把手和距儀器外殼的10～100㎝的空間范圍內(nèi)，輻射劑量率＜2.5µSv/h。
【重量】基本上重量:1.4kg，上電池后:1.5kg
【尺寸(高x寬x長(zhǎng))】300mm x 90mm x 220mm
【元素含量分析范圍】從0.01%到99.99%；
手持光譜合金分析儀JTES-5000儀器資料牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)：
儀器自帶250多種牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)，同時(shí)儀器可以客戶自行添加300組牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1、采用高性能的Si-Pin探測(cè)器，具有更高的檢測(cè)精度。
2、實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)、快速、無(wú)損、準(zhǔn)確的檢測(cè),2-3秒顯示合金牌號(hào)、元素、百分比含量。
3、采用50KV、100mA、4W的X射線管技術(shù)使儀器兼?zhèn)涓脵z測(cè)下限及輻射安全保證。
4、采用智能光束（Smart Beam）可Ti、V精度可達(dá)0.02%,能很好的區(qū)分不銹鋼304 與321,鉻合金P91與9鉻,鈦合金7級(jí)鈦與純鈦等等。
5、更低的探測(cè)器溫度，-35℃的超低溫工作狀態(tài)，使儀器具有卓越的解析度。
6、更高的檢測(cè)精度，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提高儀器的檢測(cè)精度。
7、不規(guī)則或者很小樣品的智能探測(cè)，如頭發(fā)絲(0.06MM)細(xì)的絲也能立即測(cè)試辨認(rèn)。
8、自動(dòng)停止功能，窗口前無(wú)被測(cè)物體，啟動(dòng)儀器會(huì)在2秒后自動(dòng)停止測(cè)試。
9、可延伸的探頭對(duì)管道內(nèi)壁、焊縫、小型部件等平常難以接觸的位置進(jìn)行檢測(cè)。
10、儀器自帶高清分辨率顯示屏幕，可在現(xiàn)場(chǎng)隨意指定、查看、編輯測(cè)試信息及結(jié)果。。
11、無(wú)需借助電腦，可在現(xiàn)場(chǎng)添加、編輯、刪除合金牌號(hào)。
12、儀器采用鋁合金具有更強(qiáng)的散熱能力、抗震動(dòng)能力、自動(dòng)防幅射保險(xiǎn)裝置。
13、采用人性化一鍵式按鈕設(shè)計(jì)，用戶在測(cè)試過程中無(wú)需一直壓住按鈕。
14、測(cè)試結(jié)果可以連接電腦輸出打印，儀器具有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果版本，極大方便客戶編輯、打印結(jié)果信息。
15、儀器可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，維修工程師可以通過互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器軟件安裝、維修功能，24小時(shí)確保客戶機(jī)器不宕機(jī)。
16、儀器采用Windows CE操作系統(tǒng)，確保儀器操作系統(tǒng)更穩(wěn)定、功能更強(qiáng)大。
17、儀器自帶標(biāo)準(zhǔn)塊，每次開機(jī)儀器自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化，標(biāo)準(zhǔn)化通過，儀器才能正常使用。如標(biāo)準(zhǔn)化不通過，儀器則不能使用。確保儀器每次使用都是處于正常精度保證范圍內(nèi)。
18、儀器采用基本參數(shù)法（FP Method），測(cè)試之前不需要了解測(cè)試樣品的種類，不需要選定測(cè)試曲線。
19、測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)成Excel 輸出，也可至個(gè)人電腦或者是利用藍(lán)牙直接傳輸至筆記型電腦列印輸出，歸檔。
產(chǎn)品配置：
(1) 手持光譜合金分析儀JTES-5000主機(jī)一臺(tái)；
(2) 合金分析專用測(cè)試軟件一套；
(3) 鋰電池(兩塊) ；
(4) 鋰電池充電器一套；
(5) 專用數(shù)據(jù)下載USB數(shù)據(jù)線一套；
(6) 316標(biāo)準(zhǔn)帽一塊；
(7) 用戶手冊(cè)一份；
(8) 儀器出廠檢驗(yàn)合格證書 ；
(9）窗口保護(hù)膜二片；
(10) 防水主機(jī)保護(hù)箱一個(gè)；
軟件說明
1．儀器工作原理說明
l XRF就是X射線熒光光譜分析儀(X Ray Fluorescence Spectrometer) 。 人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線叫X射線熒光 ，而把用來(lái)照射的X射線叫原級(jí)X射線。
l 當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為10-12~10-14S，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。
l 當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X射線熒光(特征X射線)，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。
l 特征X射線熒光產(chǎn)生： 碰撞→躍遷↑(高) →空穴→躍遷↓(低)
l 不同元素發(fā)出的特征X射線熒光能量和波長(zhǎng)各不相同，因此通過對(duì)其的能量或者波長(zhǎng)的測(cè)量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測(cè)出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。
測(cè)試界面
