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    1. 無損檢測解決方案專家探傷儀/硬度計/測厚儀/探傷系統(tǒng)
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      MiniTest 1100涂層測厚儀

      產(chǎn)品詳情

      MiniTest 1100涂層測厚儀
      四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。

      德國EPK MiniTest 1100涂鍍層測厚儀 的技術特征

       

      型號 MINITEST 1100 MINITEST 2100 MINITEST 3100 MINITEST 4100
      MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
      應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99
      每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設寬容度極限值) . 1 10 99
      可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) . 1 500 500
      數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
      MINITEST統(tǒng)計計算功能
      讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar .
      讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk . .
      組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar . .
      組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk . .
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) . . .
      分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 . .
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間 .
      其他功能
      設置極限值 . .
      連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值 . .
      連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) . .
      連續(xù)測量模式中顯示*小值 . .

       

      可選探頭參數(shù):
      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      探頭 量程 低端
      分辨率
      誤差 *小曲率半徑
      (凸/凹)
      *小測量
      區(qū)域直徑
      *小基
      體厚度
      探頭尺寸



      F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
      F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
      F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
      F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
      F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
      F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
      F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
      F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm


       
      FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
      FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm
      FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm



      N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
      N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
      N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
      N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
      N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm
      N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
      N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
      N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
      N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
      CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm

      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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